用途：
GMR-213系列偏光显微熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业最常用的专业实验仪器。偏光熔点测定仪可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，偏光熔点测定仪通过LED显示温度值及设定温度值，仪表显示准确、清晰、稳定，对温度控制可设定程序，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温、控温装置。显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件。偏光显微镜热台具有可扩展性，可以接计算机和数码相机，对图片进行编辑、保存和打印。偏光熔点测定仪是一组具有较完备功能的新型产品。
成像系统简介：
GMR-213P电脑型偏光显微熔点测定仪 GMR-213S数码型偏光显微熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
技术参数：
1.目镜：
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类 别 |
放大倍数（X） |
视场（mm） |
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网格目镜 |
10X |
φ18 |
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十字目镜 |
10X |
φ18 |
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分划目镜 |
10X |
φ18 |
2.物镜：
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类 别 |
放大倍数（X） |
数值孔径（NA） |
工作距离（mm） |
盖玻片厚度（mm） |
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物 镜 |
4X |
0.10 |
7.80 |
- |
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10X |
0.25 |
4.70 |
- |
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25X |
0.40 |
1.75 |
0.17 |
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40X |
0.65 |
0.72 |
0.17 |
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63X |
0.85 |
0.18 |
0.17 |
3.放大倍数：40X-630X 系统放大倍数：40X-2600X。
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜:可移出光路，旋转范围90°内置勃氏镜，中心、焦距可调
7.补偿器：λ片(φ18mm，一级红，光程差551nm) λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级)
8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微调，格值为0.002mm
9.电光源：6V/20W卤素灯（亮度可调）
精密恒温工作台介绍：
特点：
l 独特的实体无缝隙热体结构 导热快，温度均匀一致，热源无氧化，寿命长久，体积小，功率大，能耗低，升温迅速，能耐受长时间高温连续不间断工作。
l 独特的热力学隔离设计 高，低温区有效隔离，高温载物台高达400度时，其外体可安全握持不烫手，且无需水冷.
l 直流低电压加热 安全，无辐射。
l 人性化“傻瓜”设计 使用操作极为方便.
l 环境自适应模糊逻辑控制模式 整定迅速，精度极高，波动度微小，能适应恶劣环境，既使强阵风吹拂载物台，系统也能实现高精度有效控制.
l 给物体在高低温度变化的显微观察，提供极好的帮助。
规 格：
温度范围：室温-400℃
热台外体最高温度:当热体400℃；室温25℃时≤70℃
精度 测量精度：全范围≤±0.3%
系统波动度: ±1℃
最大升温速度(MAX位):室温-100℃≤ 40秒
可设置升温速度范围:1-36秒/℃
即刻恒温响应时间: ≤ 0.01秒
输入电源:交流220V±10% 45-60HZ
热台加热工作电源：直流24V 1.5A
功耗：75W
工作方式：连续型
热工作台最大载物重量：200g
工作台外型尺寸: Φ110mm
厚度：Φ12mm
工作台工作面尺寸:30mm（分别有透射光和反透射光两种）
重量：7.6KG
外包装尺寸：360x215x365mm
仪器选配件：1.偏光分析软件（GM-PG2000） 2.二维测量软件（GM-2000M）
3.高像素成像系统。
4．冷台规格：(选配)
冷台尺寸:110x75x14mm
冷工作面表面尺寸:36x36mm
可控工作温度范围:室温-零下20℃
精度 测量精度：全范围≤ ±0.5%
系统波动度: ≤1℃%
显示：分辨率0.1℃
冷却方式：过流式水冷
工作式方：连续
冷工作台电源:直流12V 6A
最快降温速度:2℃/秒
可设置降温速度范围:MAX-10秒/℃
最小水流量：≥ 5升/分
